通道容量:最大 5 個模塊槽位,滿配20 通道(5×4ch)Santec。
測量模式:雙模式 STS(標準 / 高規格),高規格模式重復性 **±0.01dB**,內置光學參考端口。
采樣性能:每通道100 萬采樣點、100kHz高速采樣,雙緩存區設計(讀寫并行)SantecSantec。
波長 / 功率:1250–1680nm,適配 C/L/S 波段;功率范圍由模塊決定Santec。
接口:GPIB / 以太網,兼容 MPM-210 系列指令,無縫對接舊系統Santec。
探測器:InGaAs,1250–1680nm(標定 1250–1630nm)。
功率范圍:?80 ~ +10dBm,高動態范圍50dB / 單次掃描SantecSantec。
精度 / 線性:典型 **±0.03dB(?55~+9dBm)**,PDL<0.025dB(1525–1585nm)Santec。
接口:標準FC,可換適配器(LC/SC/ 裸纖)Santec。
全通道并行:20 通道同步測量,效率提升 5–20 倍(對比單通道)Santec。
高精度 + 高穩定:220 的參考端口 + 211 的低 PDL,IL 重復性 **<0.005dB**,適合 DWDM/AWG/WSS 測試Santec。
寬功率覆蓋:?80~+10dBm 兼顧弱光(如光纖傳感)與強光(如高功率器件)Santec。
無縫兼容升級:220 可直接替換舊款 MPM-210H,復用現有 211 模塊與程序,降低升級成本。
1×MPM-220 + 1–3×MPM-211:4–12 通道,適合實驗室器件表征、樣品測試、PDL/WDL 研發驗證Santec。
1×MPM-220 + 5×MPM-211:20 通道,適配 AWG/DWDM/ 光開關量產線,配合 TSL-770/570 激光器 + PCU-110 偏振控制器,構成完整 STS 掃描測試系統Santec。
MPM-211(通用 4ch)+ MPM-215(高動態 70dB)+ MPM-213(電流測量):兼顧通用功率、超高動態與光電探測器(ROSA / 相干接收)測試Santec。
無源器件測試:AWG、PLC 分路器、DWDM 濾波器、WSS 的 IL/PDL/WDL/ 串擾并行測試Santec。
有源器件驗證:光模塊 / ROSA 的接收靈敏度、飽和功率、PDL 測試,搭配 MPM-213 可測 PD 電流響應度Santec。
光纖鏈路 / 傳感:多通道光纖損耗、斷點、偏振特性監測,適配弱光(?80dBm)與長距離場景Santec。
自動化量產線:20 通道同步測試,配合上位機軟件實現一鍵化、高吞吐量質檢,降低人工誤差。
性能躍升:220 采樣率提升100 倍、波長再現性提升3 倍,高規格模式重復性達 **±0.01dB**(210H 為 ±0.02dB)。
雙模式架構:220 新增標準 / 高規格模式,兼顧效率與超精密需求;210H 僅單一模式。
參考端口:220 內置光學參考端口,實時補償光源波動,IL 重復性 **<0.005dB**;210H 無此設計Santec。